FIT-Sockel: Ziele schnell wechseln, einfach inspizieren und testen

Eine fokussierte Sammlung von Sockelmodulen, die speziell für Fehlereinbruchs-Anwendungen entwickelt wurden. Diese Sockel ermöglichen es Ihnen, Ziel-ICs schnell zu installieren, zu identifizieren und auszutauschen, während deren Eigenschaften erhalten bleiben, um die Wiederholbarkeit von Experimenten zu erleichtern.

FIT-Sockel Vorteile:

• Schnelle Zielwechsel: Ermöglichen ein rasches Tauschen von Bauteilen ohne Löten und reduzieren Ausfallzeiten zwischen Testläufen.

• Klare Zugänglichkeit und Identifikation: Offene oder flache Sockel machen es einfach, das eingesetzte Bauteil visuell zu identifizieren und Sonden oder Injektoren zu positionieren.

• Unterstützung für EMFI und Abtastung: Sockeltypen, die die Gehäuseoberfläche zugänglich machen oder Signale offen halten, sind praktisch für elektromagnetische Fehlereinbrüche.

• Wiederverwendbar und kostengünstig: Sockel sind langlebig, erlauben die Wiederverwendung von Zielen und Adaptern und vereinfachen reproduzierbare Experimente.

• Plug-and-Play-Kompatibilität: Entwickelt zur Verwendung mit FIT-Basiskarten und den Adapterlagen, die im FIT-Ökosystem genutzt werden.